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장비의 센서 데이터를 다채널로 수집하고,
표준 통신 기반으로 상위 시스템과 연계하여
공정 모니터링과 이상 감지에 필요한
데이터 기반을 제공합니다.
센서별 개별 구성에서 다채널 통합 구조로 전환합니다.




데이터 수집 → TSMS → FDC의 흐름으로 공정 데이터를 연결합니다.
온도 / 진동 / 압력 / RF 등
다양한 데이터 소스
하나의 장비에서 확인하고 싶은 온도, 압력, 진동, 위치 등 여러 센서 포인트를 다채널로 연결하여 확인
단일 모듈에서 최대 40개 채널을 지원하여 센서별 개별 장치 구성을 줄이고, 설치·배선·유지보수 비용 절감
0.1초 단위 데이터 통신을 통해 공정 상태 변화를 빠르게 확인하고 이상감지에 필요한 데이터의 연속성과 신뢰성 향상
기존에 연결되어 있던 센서와 신규 추가 센서 모두 연계 가능하며, 반영구적 사용 구조로 장기간 안정적인 운영을 지원
챔버 내·외부의 비전 센서 데이터를 다채널로
수집하고, 표준 통신 기반으로 상위 시스템과
연계하여 모니터링에 필요한 데이터를 제공합니다.




비전 센서 → SSDAM → FDC의 흐름으로 공정 데이터를 연결합니다.
카메라 / 영상 등
다양한 데이터 소스
8챔버, 12챔버 등 장비 챔버 수와 구조에 따라 비전 센서 구성을 유연하게 적용
다양한 비전 Tool 설정을 통해 한 장비 내 여러 이상감지 포인트를 함께 확인 가능
고객이 원하는 기준에 따라 감지 데이터를 수치, 이미지, 그래프 등 다양한 형태로 제공
육안 확인에 의존하던 공정 상태를 설정된 비전 Tool 기준으로 확인하여 작업자별 판단 편차 감소
(Yield Management System)
수율 현황과 불량 데이터를 관리하고
품질 추적과 공정 개선을 지원하는
수율 관리 시스템
Yield Management System
검사 데이터부터 수율, 불량, 품질 이력까지 하나의 흐름으로 관리합니다.
검사·공정·Lot 데이터 기준 정합 및 데이터 검증
제품·Lot·Wafer 단위 수율 계산 및 통계 관리
Defect, Bin, Fail 데이터 유형별 분류
Wafer / Lot 기준 검사 이력 조회 및 공정 이력 연계
(Fault Detection and Classification)
장비·센서·공정 데이터를 실시간으로 모니터링하여
이상 상태를 감지·분류하는 시스템
Real-time Fault Detection & Classification
수집된 장비·센서·공정 데이터를 실시간으로 처리하고 현장 대응에 필요한 정보를 제공합니다.
실시간 Trace 수집
Recipe Step 확인
Data Quality 확인
Rule 기반 이상 감지
Threshold / UCL·LCL 감시
Trend / Rate 변화 감지
이상 유형 분류
관리 기준 기반 분류
알람 연계
Trend Chart
Dashboard
Alarm History / Event 이력